利用近场测试技术定位I/O模块的EMC问题是高效整改的关键。使用近场探头套装，包括磁场探头和电场探头。首先在传导或辐射发射测试中确定超标频点。然后在模块上电工作时，用近场探头近距离扫描PCB表面、芯片、线缆和连接器。观察频谱分析仪上该频点信号的强度变化，信号最强的位置就是主要辐射源或耦合路径。磁场探头对电流环路敏感，适合定位开关电源环路或时钟走线；电场探头对电压变化敏感，适合定位芯片引脚或未屏蔽的导体。对于抗扰度问题，可以在施加干扰的同时，用近场探头监测内部敏感节点的噪声耦合情况，找出薄弱环节。结合示波器，可以观察时域波形。定位到问题区域后，可采取针对性措施，如为芯片增加屏蔽罩、为走线增加滤波、修改接地方式等。近场测试不需要在电波暗室进行，可在研发实验室快速进行，是EMC设计和整改的强大工具.
沪公网安备31011702889749号
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