
EPS中高频dv/dt,电压变化率是导致辐射干扰(RE)的关键因素之一.过高的dv/dt及其引发的开关节点振铃,会产生宽频谱的噪声,并通过机箱缝隙、线缆等像天线一样向外辐射,降低辐射干扰的核心是抑制dv/dt和控制振铃.措施包括:在开关管两端并联RC吸收电路或采用RCD缓冲电路,以吸收开关能量、减缓电压上升沿;优化驱动回路阻抗与布局,最小化驱动环路寄生电感;选用具有更软恢复特性的续流二极管;在产生高dv/dt的节点,如MOSFET漏极就近并联小容量高频陶瓷电容.同时,确保机柜屏蔽完整性和线缆屏蔽层良好接地,以阻断辐射路径.