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雷管内部电子控制芯片老化、损坏，是否会导致早爆或误起爆？

发布日期：2025-08-19 浏览次数：240次

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数码雷管长时间储存或极端温度环境下，控制IC内部晶体管参数漂移、ESD结构漏电增大、时钟振荡器频率偏移可能导致看门狗失效、起爆指令误触发或延期精度超差.依据GJB 548B微电子器件试验方法，高温老化后漏电流须＜10μA,这个值已经是很宽的范围.

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