在传导抗扰测试中出现控制逻辑紊乱，表明高频干扰通过电源或I/O线耦合影响了MCU等核心器件,主要原因包括电源完整性差、关键信号线受扰.
硬件对策是在电源入口和各功能模块电源分支处使用磁珠与多容值电容组成π型滤波网络，例如搭配CBL系列磁珠与10μF、0.1μFMLCC电容,为时钟线加装磁珠或串联小电阻滤波，复位线上拉并加对地小电容,确保多层板有完整地平面，为高频噪声提供低阻抗回流路径,这些措施能提升系统在强干扰下的稳定性.
沪公网安备31011702889749号
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