AI推理卡外壳接地连续性的测试标准是什么？

发布日期：2026-01-30 浏览次数：95次

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AI推理卡外壳接地连续性测试依据 GB/T 17626.5 或 IEC 61000-4-5 中关于保护接地阻抗的要求以及安规标准 IEC 62368-1；测试方法：在外壳接地点与 PCB 地之间注入 25A/32A 交流或直流电流，测量电压降计算阻抗，标准要求接地阻抗 <100mΩ25A 测试电流；音特电子推荐使用微欧计四线法测试电流 >1A 避免接触电阻影响，实测某 AI推理卡外壳接地阻抗 180mΩ 在 ±4kV EFT 测试中导致管理网口复位，增加导电泡棉压缩量后阻抗降至 28mΩ 测试通过；AI推理卡批量生产应每台进行接地连续性抽测确保 <100mΩ 指标.

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